autopano-sift-C

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autopano-sift-C
软件详细信息:
版本: 2.5.0
上传日期: 3 Jun 15
许可: 免费
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在SIFT特征检测算法已被发明和大卫·罗威在不列颠哥伦比亚大学出版。
该算法提供了能力范围内识别关键特征点
任意图像。它进一步提取高度不同信息,为每个这样的点,并允许该点不变的许多修改对图像的特征。这是不变的对比度/亮度变化,旋转,缩放和不变的部分向其他类型的转换。该算法可以灵活用于创建输入数据,图像匹配,目标识别等计算机视觉相关算法。
利用SIFT算法自动全景创作已经在他们的论文“认识全景”已经开发了马修·布朗和大卫·洛。
什么是新的,在此版本:

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