软件截图:
回归Pro是可用于研究的实验数据，从光谱椭偏仪或反射计未来科学/工业软件。
回归临已开发主要用于测量薄膜的在半导体工业中的应用。
该软件同时适用于确定层的厚度，并确定介电材料的光学特性
什么在此版本中是新的：
- 在该版本修正了几个错误，改善了一些小的可用性问题。这是回归临的所有用户推荐的升级。
在什么版本1.4.0是新的：
- 在这个版本引入了许多改进
- 最重要的是增加了一个互动配合会话，它允许用户进行实验与实验光谱和模型。
- 在一个新的分散优化已实现交互式适应模型参考分散。
- 在图形引擎被完全重写了使用antigrain库（AGG）。
- 在用户手册也被更新，以反映新的功能，并增加一些缺少的部分。
什么是1.3.2版本，新的：
- 在支持已添加，以适应多谱在同时用共享和样本特异性拟合参数。这种技术是非常重要的，以便为了通过检查模型与多个独立的样品，以提供更稳健的结果。
- 网格搜索算法也得到了改善。
要求：
- 在GNU科学图书馆
- FOX
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